电阻损坏的特点及检测方法有哪些
一.电阻检测方法
1)检查万用表电池
方法如下:将挡位旋钮依次置于电阻挡R×1?1、金属膜电阻具有噪音低,耐高温,体积小,稳定性和精密度高等特点,缺点是价格比碳膜电阻贵。和R×10K挡,然后将红、黑测试笔短接。旋转欧姆调零电位器,观察指针是否指向零(MF47型万用表如R×1?挡,指针不能校零,则更换万用表的1.5V电池。如R×10?挡,指针不能校零,更换9V电池。)
2)选择适当倍率挡
测量某一电阻器的阻值时,要依据电阻器的阻值正确选择倍率挡,按万用表使用方法规定,万用表指针应在全刻度的中心部分读数才较准确。测量时电阻器的阻值是万用表上刻度的数值与倍率的乘积。如测量一电阻器,所选倍率为R×1,刻度数值为9.4,该电阻器电阻值为R=9.4×1=9.4?。原创微信公众号:卧龙会IT技术碳膜电阻器的阻值范围宽,有良好的阻值稳定性,高频特性好,电阻温度系数不大且是负值,价格低廉。
3)电阻挡调零
在测量电阻之前必须进行电阻挡调零。其方法如检查电池方法一样(短接红黑测试笔),在测量电阻时,每更换一次倍率挡后,都必须重新调零。
2.测量前的准备工作
将两表笔(不分正负)分别与电阻的两端引脚相接即可测出实际电阻值。为了提高测量精度,根据被测电阻标称值的大小来选择量程。由于欧姆挡刻度的非线性关系,它的中间一段分度较为精细,因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置,即全刻度起始的20%—80%弧度范围内,以使测量更准确。根据电阻误差等级不同。改变碳膜的厚度和用刻槽的方法来改变碳膜的长度,可得到不同的阻值。读数与标称阻值之间分别允许有±5%、±10%或±20%的误差。如不相符,超出误差范围,则说明该电阻器变值了。
注意事项: 测试时,特别是在测几十KΩ以上阻值的电阻时,手不要触及表笔和电阻的导电部分;被检测的电阻人电路板中焊下来,至少要焊开一个引脚,以免电路中的其他元件对测试产生影响,造成测量误差;色环电阻的阻值虽然能以色环标志来确定,但在使用时还是用万用表测试下其实际阻值。低温度系数的电阻可以按按照方式分为贴片低温度系数电阻和插件低温度系数电阻。
根据以上特点,在检查电阻时可有所侧重,快速找出损坏的电阻。
精密电阻精密薄膜电阻的技术发展代表了可以被大量商用的精密电阻技术,也是目前用量广的精密电阻技术。通过长时间多层的膜层沉积,高精密的调阻和后期的筛选,好的精密薄膜电阻可以达到±2ppm/°C的温漂和±0.01%的精度,以及很好的长期稳定性。2,合金电阻具有耐高压,耐突破,抗冲击的特性,合金材质,主要用于大电流采样。其缺点是功率做不大,低阻值部分指标不好,不抗静电,功率系数差,很难满足小批量的供货,且不同批次的一致性不好。
主要性能参数范围
尺寸规格: 0402、0603、0805、1206、2010、2512
阻值范围:1Ω~2MΩ
阻值精度: +0.05%、+0.1%、+0.25%、+0.5%
额定功率: 1/161/10 1/81/41/23/41(W)
阻值温度系数TCR:+1 +2 +5+10+15+25 +50(ppm/℃)
优点
阻值精度高,温度系数低;
损耗少,噪音低;
低寄生效应,ji好的高频率性能;
片式小型化,适合SMT工艺;
缺点
电阻体薄膜在高温、化学腐蚀等场合会氧化,导致阻值不断变化;高阻值薄膜电阻器的电阻体膜很薄, 更容易受到氧化有更da的阻值恶化。
电阻体薄膜很薄,很容易受ESD静电放电电压的影响。
应用场合
薄膜电阻器在精密电阻市场中应用duo,用量duo,它比线绕电阻和箔电阻有更宽的阻值范围选择,更便宜。
薄膜电阻器在中级精度的高阻值电阻并且考虑空间效率的应用中是比较经济的选择。
电阻碳膜电阻与金属膜电阻的区别:
相信很多人都知道碳膜电阻和金属膜电阻,但不清楚怎么去区分这两种电阻呢?
一、从材质上判断
金属膜电阻是是用镍铬或类似的合金真空电镀技术,着膜于白瓷棒表面,经过切割调试阻值,以达到终要求的精密阻值。金属膜电阻器提供广泛的阻值范围,有着精密阻值,公差范围小的特性。亦可应用于金属膜保险丝电阻器。
碳膜电阻是目前电子、电器、资讯产品使用量da,价格pian宜,品质稳定性信赖度高。其是从高温真空中分离出有机化合物之碳,紧密附着于瓷棒表面的碳膜体,而加以适当的接头后切割调适而成,并在其表面涂上环氧树脂密封以保护。
二、从外观上判断
1、用刀片刮开保护漆,露出的膜的颜色为黑色为碳膜电阻;膜的颜色为亮白的则为金属膜电阻。
2、由于金属膜电阻的温度系数比碳膜电阻小得多,所以可以用万用表测电阻的阻值,然后用烧热的电铬铁靠近电阻,如果阻值变化很大,则为碳膜电阻,反之则为金属膜电阻。
以上所介绍的内容,就是这两种电阻常见的识别方法。通过这些识别方法,可以更好地帮助大家快速地识别出碳膜电阻与金属膜电阻。
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