对比试样校准原理
1. 复型测量法一种间接的测量方法，通过将可塑性材料充满在人工缺陷内，经过凝固成型后取出，直观、形象、逼 真地再现人工缺陷的立体形貌，取点、线、断面采用相应精度的量具对人工缺陷长度、宽度、深度测量，获 得人工缺陷的尺寸数据。
2. 显微测量法直接通过读数显微镜对人工缺陷放大后，以光学成像或聚焦方法瞄准边缘轮廓或表面，通过X、Y、Z轴在缺陷上移动的距离直接测量人工槽的长度、宽度、深度及通孔的直径。
对比试样校准概述
是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；
对比试样校准示值显现不稳定？
致使涂层测厚仪示值显现不稳定的要素主要是来自工件本身的资料和构造的特别性，比方工件本身是不是为导磁性资料，假如是导磁性资料咱们就要挑选磁性涂层测厚仪，假如工件为导电体，咱们就得挑选涡流涂层测厚仪。再者，被测件的外表粗糙度和附着物也是致使仪器示值显现不稳定的重要要素，测厚仪的探头对那些阻碍与覆盖层外表紧密触摸的附着物质极其灵敏。有必要确保探头与覆盖层外表直触摸摸。因而，扫除此种毛病的关键即是：测量前铲除被测件触摸面的尘埃、细屑、油脂及腐蚀产物等附着物，但不要除去任何覆盖层物质。再有即是在进行体系调零时，所运用的基体外表也有必要是清洗、润滑的。如感受测量成果差错比较大时，请先用仪器装备的塑料校准片做一轮测验，如违背答应差错较远则有也许是仪器本身出了问题，需返厂家检修。在体系校按时没有挑选适宜的基体。基体平面为7mm，小厚度为 0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。
