XRD小角度检测测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
无i限制检索就是对图谱不作任何处理、不规定检索卡片库、也不作元素限定、检索对象选择为主相（S/M Focus on Major Phases）。
这种方法一般可检测出样品中的主要的物相。在对样品无任何已知信息的情况下可试着检索出样品中的主要物相，进而通过检索出来的主要物相了解样品中元素的组成。另外，在考虑样品受到污染、反应不完全的情况可试探样品中是否存在未知的元素。但是，这种方法不可能检索出全部物相，并且检索结果可能与实际存在的物相偏差较大，需要其它实验作进一步证实。
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X射线衍射仪(XRD)相关术语解释
粉末衍射仪
粉末衍射仪是目前研究粉末的X射线衍射常用而又方便的设备。它的光路系统设计采用聚焦光束型的衍射几何，一般使用普通的NaI(Tl)闪烁检测器或正比计数管检测器以电子学方法进行衍射强度的测量；衍射角的测量则通过一台精密的机械测角仪来实现。
测角仪
是粉末衍射仪上精密的机械部件，用来测量衍射角。
发散狭缝
测角仪上用来限制发散光束的宽度。发散狭缝的宽度决定了入射X射线束在扫描平面上的发散角。
接收狭缝
测角仪上用来限制所接收的衍射光束的宽度。接收狭缝是为了限制待测角度位置附近区域之外的X射线进入检测器，它的宽度对衍射仪的分辨能力、线的强度以及峰高/背底比有着重要的影响作用。
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原位XRD相对于非原位XRD的技术优势
原位XRD在材料反应过程中得到实时的结构变化信息，可以深入的认识材料在充放电过程中发生的反应，对如何改进材料也具有很大的指导意义；非原位XRD的测试往往不能很好的还原真实的状况，另外，如果所测试的材料状态对空气敏感，那么，必须将材料放在隔绝空气的装置中测试才能反应材料的真实状态。
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原位XRD的测试可以在短时间内得到大量可对比信息，由于原位测试的整个过程是对同一个材料的同一个位置的测试，因此得到的信息（无论是晶胞参数还是峰强度，还是其他的参数）都是具有相对可比性的。
而非原位XRD得到的信息相对可比性较差且对测试过程中的操作要求较高，比如，极片拆卸洗涤后如果极片处于褶皱状态，材料测试的会产生高低变化，测到的XRD的峰会发生偏移，相应的精修得到的晶胞参数也会有所变化；而不同极片活性材料质量和分布必然存在不同，这也必然导致不同充放电状态下的峰强可比性是比较差的。
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